測定石墨電極石墨化程度的方法有哪些？

   國際標準分類中，石墨電極石墨化涉及到導體材料、絕緣流體、白臘、瀝青材料和其他石油產品、化工產品、生物學、植物學、動物學、工業爐、電線和電纜、外表處理和鍍涂、燃料、金屬出產、玻璃和陶瓷出產設備、焊接、釬焊和低溫焊、電工和電子試驗。
    1.X射線衍射分析法。它是運用X射線在晶體的晶面上的衍射，取得有關晶格參數，它在石墨晶體結構的研究中有重要作用，常用方法有X射線粉末照相法或X射線衍射儀法。
   （1）X射線粉末照相法，圖為X射線粉末照相法的測定設備示意圖，把樣品先磨成極細的粉末，裝在一個特制的管子內，并將其固定在圓形照相匣中心，一束固定波長的X射線經過鉛板上的小孔，照耀在被測定的樣品粉末上，這些樣品粉末是亂七八糟的擺放著，在他們之間總有滿意布拉格公式條件的反射平面，因而產生衍射，用感光底片或其他方法將其記載下來，得到X射線衍射圖，據此進行核算晶格參數。
   （2）運用X射線衍射儀測定，X射線衍射儀由Ⅹ射線源、測角儀、勘探記載部分等組成。與X射線粉末照相法的首要區別是用蓋格一密勒計數管或閃耀計數管測出衍射線的強度和粉末照相法測定結果比較具有快速準確的利益。
    志向石墨晶格的為0.3354nm（為層間間隔），a為0.2461nm各種人工石墨經射線衍射法測定的都大于志向石墨的.3354nm）。被測試樣的越接近于志向石墨的，說明這種人工石墨的石墨化程度越高。曾對直徑400mm的一般功率石墨電極（電阻率為8.69μ·m）進行測定，晶格參數測定結果為0.3361nm。
    2.運用富蘭克林常數核算a有序疊合層間隔（0.3354nm）；石墨化程度。富蘭克林對人工石墨無序疊合層間隔（3.44nm）；材料推導出一個晶格常數co與石墨化程度直接聯絡的公式，富蘭克林認為，一般的人工石墨材料是六角環形片狀體有序疊合部分和無序疊合部分的混合體。圖為富蘭克林提出的這種石墨微晶結構模型的示意圖，設定石墨晶體內有序疊合的層間隔為0.3354nm，無序疊合的層間隔為0.344nm，只要在和兩者相鄰的第一個層面間（圖中c和d的方位）存在中間值。可是可以測定的層間隔（均勻值）因石墨化的進行而不斷減小。假設在任意兩個鄰接層間無序疊合層的機率為p（p值即為富蘭克林常數），那么均勻層間隔d可用下式表明:
d=0.3440.0086（1-p2）或d=0.3354+0.0086p2
式中，系數0.0086為層間隔以nm為計量單位時、未石墨化程度的無序疊合的層間隔0.344nm與志向石墨的層間隔0.3354nm的差值。